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多通道電流矩陣模塊高壓功率放大器鐵電分析儀塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)

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華測(cè)電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)（電介質(zhì)特性評(píng)估系統(tǒng)），將環(huán)境試驗(yàn)箱與測(cè)量和評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合，高效采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。
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PEA空間電荷測(cè)量系統(tǒng)/脈沖電聲法

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HCDJC華測(cè)薄膜復(fù)合制品變溫極化耐擊穿試驗(yàn)機(jī)

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HCDJC-150KV電壓擊穿儀，快速測(cè)定擊穿強(qiáng)度

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Huace HV-10華測(cè) 多通道高壓極化裝置

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Huace HV-10華測(cè) 多通道高壓極化裝置借鑒國(guó)際xian進(jìn)的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，采用華測(cè)儀器自主研發(fā)的超低紋波、線性高壓直流電源、更科學(xué)穩(wěn)定的加熱電極，并配合計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)的多功能極化的裝置。
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HCMP華測(cè)多通道介電/電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-12-12

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華測(cè)多通道介電/電阻測(cè)試儀，主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用；光耦繼電器，高速又耐用；切換時(shí)間 1 ms；高速I(mǎi)/O 輸出控制。
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HCDH-3華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI

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華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀，是指在固體絕緣材料表面，在電場(chǎng)和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過(guò)程。這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為漏電起痕，而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱(chēng)為耐漏電起痕。漏電起痕試驗(yàn)是評(píng)估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過(guò)模擬在潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的環(huán)境，測(cè)定材料的相比漏電起痕指數(shù)（CTI）和耐電痕化指數(shù)（PTI）。華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI
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Huace-4華測(cè) 簡(jiǎn)易探針臺(tái)

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華測(cè) 簡(jiǎn)易探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。
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